手持x荧光光谱仪的检测过程简析

，手持x荧光光谱仪是一种原子发射方法，被测样品被X射线管通过产生的入射X射线激发。之后受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，这个射线我们也叫X荧光，这个射线具有特定的能量特性或波长特性。荧光光谱仪的探测系统就是测量这些的。

此外，x射线荧光光谱仪还可以使快速筛选分析。那么接下来就和创想小编一起来温故一下手持x射线荧光光谱仪检测的基本过程吧！

x射线荧光光谱仪可以在原子级发生的简单三步过程中考虑：

传入的 X 射线从材料原子内的原子核周围的轨道之一中敲出电子。

在轨道中产生一个空穴，导致原子具有高能量、不稳定的构型。

为了恢复平衡，一个电子从更高能量的外轨道落入空穴。由于这是一个较低的能量位置，多余的能量以荧光 X 射线的形式发射。

排出电子和替代电子之间的能量差异是发生荧光过程的元素原子的特征——因此，发射的荧光 X 射线的能量与被分析的特定元素直接相关。正是这一关键特性使 XRF 成为如此快速的元素组成分析工具。

现如今XRF分析已经是一种可靠且成熟的技术了。它具有高精度和高准确度，它可以很容易地实现自动化，以便于在高通量工业环境中应用。

创想手持光谱合金分析仪在金属冶炼中的应用