在Q/CSG 10007-2004与DL/T 596-1996中除了规定电容值偏差不超过额定值的一5%~+l o%以外,还规定电容值与出厂值之间的偏差:对高压并联电容器等和集合式电容器分别不应小于出厂值的95%和9 6%;对耦合电容器等电容值不应大于出厂值的102%(否则应缩短试验周期)。其主要原因是控制运行中元件电压不超过规定值的1.1倍。
对高并联电容器,它有不带内部熔丝和带内部熔丝两种。对不带内部熔丝的,在大多数情况下,击穿一个元件,电容量变化一般均超过+IO%。此时,部分完好元件上的电压将升高10%以上,电容器应退出运行;但对带内部熔丝的元件损坏引起电容减小,要控制电容量允许变化值不超过元件电压规定值的Un/m(Un为电容器额定电压,优为串联元件数)的1.1倍。例如,电容器元件为1 3并8串,当电容量减小9.7%时,部分完好元件上电压可能升高21%。如果出厂试验电容偏差+5%,则运行中电容偏差虽未降至一5%,就可能有元件的运行电压超过1.1倍规定值。此时电容器也应退出运行,所以有这条规定对保证电容器的安全远行有利
耦合电容器也是由多个元件串联而成,大多数单节耦合电容器的串联元件数在100个左右,当有一个元件击穿时,电容值约增大1%。考虑到温度和测试条件影响,电容值增大2%以上时,应考虑有一个元件击穿。此时虽然电容器仍可以继续运行,但应缩短预防性试验周期,查明原因,以保证安全运行。
对集合式电容器,规定每相电容偏差不超过出厂值的±5%,也是从这个角度考虑的。
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